手持式光譜分析儀在使用的時(shí)候，對(duì)于環(huán)境都是有一定的要求，不能在潮濕的環(huán)境下工作使用，也不能在高溫環(huán)境下使用，這樣是因?yàn)楸苊馐艿酱艌?chǎng)的干擾，只有在要求的環(huán)境下檢測(cè)，分析儀器才能檢測(cè)出準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。因此大家在使用手持式光譜分析儀的時(shí)候，一定要注意環(huán)境的適合度，很多時(shí)候分析儀器檢測(cè)不準(zhǔn)確和環(huán)境有很大的關(guān)系。

　　手持式貴金屬光譜分析儀對(duì)操作人員也有一些要求的，檢測(cè)的樣品需要讓儀器廠(chǎng)商的技術(shù)人員現(xiàn)場(chǎng)演示一遍，并且對(duì)技術(shù)人員操作前的培訓(xùn)。因?yàn)檫@款儀器是檢測(cè)元素的，需要做放樣檢測(cè)，這對(duì)于人體來(lái)說(shuō)會(huì)有一些影響，因此技術(shù)人員操作的時(shí)候一定要做好輻射工作。

　　手持式光譜分析儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線(xiàn)與原子發(fā)生碰撞時(shí),驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個(gè)空穴,使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí),產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級(jí)光電子，發(fā)生俄歇效應(yīng),亦稱(chēng)次級(jí)光電效應(yīng)效應(yīng)。所逐出的次級(jí)光電子稱(chēng)為俄歇電子。

　　由于電子元器件特別是集成電路要求在合適的溫度范圍內(nèi)工作，因此為確保儀器的精密度和延長(zhǎng)其使用壽命，應(yīng)讓儀器始終處于符合要求的環(huán)境溫度。手持式貴金屬光譜分析儀在工作過(guò)程中如果超過(guò)了環(huán)境溫度的設(shè)定范圍，就會(huì)出現(xiàn)儀器尋峰不準(zhǔn)無(wú)法分析、測(cè)定標(biāo)準(zhǔn)樣品數(shù)據(jù)時(shí)高時(shí)低等故障現(xiàn)象。時(shí)間證明，溫度不穩(wěn)定、變化太大大可使樣品檢測(cè)出的數(shù)據(jù)超出了標(biāo)本10%以上。