X射線熒光光譜儀:用于快速篩選電子電氣設備中的有害成分。
應用于RoHS六種有害物質(zhì),包括:鉛Pb,鎘Cd,汞Hg,六價鉻Cr6+,多溴二苯醚BDE,多溴聯(lián)苯PBB,RoHS指令涉及的產(chǎn)品范圍相當廣泛,幾乎涵蓋了所有電子、電器、醫(yī)療、通信、玩具、安防信息等產(chǎn)品,它不僅包括整機產(chǎn)品,而且包括生產(chǎn)整機所使用的零部件、原材料及包裝件,關(guān)系到整個生產(chǎn)鏈。
工作原理:
X-射線熒光光譜法,是用X-射線管發(fā)出的初級線束輻照樣品,激發(fā)各化學元素發(fā)出二次譜線(X-熒光)。波長色散型熒光光譜儀(WD-XRF)是用X射線直接照射樣品發(fā)射X熒光,分光晶體將熒光光束色散后,測定各種元素的特征X-射線波長和強度,從而測定各種元素的含量;而普通能量色散型熒光光譜儀(ED-XRF)是通過濾光片得到背景相對較低的X射線,照射樣品發(fā)射X熒光,X熒光借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分析器將未色散的X-射線按光子能量進行色散,根據(jù)各元素特征能量的強度高低來測定各元素的量;而偏振式能量色散X熒光光譜儀ED(P)-XRF是采用偏振次級靶,得到單色的X射線照射樣品,再X熒光借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分析器將未色散的X-射線按光子能量進行色散,根據(jù)各元素特征能量的強度高低來測定各元素的量,這就大大提高了儀器的信噪比,提高了能譜儀分析輕元素的能力。
結(jié)構(gòu)功能:
1、波長色散型熒光光譜儀(WD-XRF),一般由光源(X-射線管)、樣品室、分光晶體和檢測系統(tǒng)等組成。為了準確測量衍射光束與入射光束的夾角,分光晶體是安裝在一個精密的測角儀上,還需要一龐大而精密并復雜的機械運動裝置。由于晶體的衍射,造成強度的損失,需要作為光源的X射線管的功率要大,一般為2~3千瓦。但X射線管的效率極低,只有1%的電功率轉(zhuǎn)化為X射線輻射功率,大部分電能均轉(zhuǎn)化為熱能產(chǎn)生高溫,所以X射線管需要專門的冷卻裝置(水冷或油冷),這就使得儀器結(jié)構(gòu)比較復雜,硬件成本高,因此波譜儀的價格比能譜儀要高的多。
2、普通能量色散型X-熒光光譜儀(ED-XRF),一般由光源(X-射線管)、濾光片、樣品室和檢測系統(tǒng)等組成,與波長色散型X熒光光譜儀(WD-XRF)的區(qū)別在于它不用分光晶體,機構(gòu)比較簡單,價位比較低,但輕元素的檢出限較高。
3、偏振式能量色散X熒光光譜儀ED(P)-XRF,不采用濾光片,而采用偏振次級靶,其它與普通能量色散X熒光光譜儀(ED-XRF)相似,結(jié)構(gòu)也比較簡單,價位也遠低于波長色散型熒光光譜儀(WD-XRF),但在輕元素的檢出限方面接近波長色散型熒光光譜儀(WD-XRF)。