儀景通衍射儀*的硬件特性
更新日期:2020-12-31 瀏覽量:1025
當(dāng)X射線沿某方向入射某一晶體的時(shí)候,晶體中每個(gè)原子的核外電子產(chǎn)生的相干波彼此發(fā)生干涉。
許多XRD儀器都使用X射線檢測(cè)器只在一個(gè)平面或一維實(shí)驗(yàn)中捕獲來自樣品的光子。儀景通基于CCD的XRD分析儀可以收集衍射圓環(huán)的切片,以幫助用戶了解樣品的制備方法是否正確(顆粒統(tǒng)計(jì)信息和/或晶體的取向)。這些信息可以幫助確認(rèn)定量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和代表性。
較大的常規(guī)XRD儀器通常不能使用能量鑒別型探測(cè)器。因此,探測(cè)器會(huì)受到XRD實(shí)驗(yàn)中未使用的光子的影響。另一方面,儀景通XRD分析儀可以去除不直接參與XRD實(shí)驗(yàn)的光子,例如X射線熒光光子,從而提供更好的信噪比。
儀景通XRD儀器標(biāo)配有堅(jiān)固的鈷(Co)靶材X射線管。該陽極非常適合分析高鐵含量的樣品,因此是地質(zhì)學(xué)家和礦物學(xué)家的陽極。但是某些應(yīng)用(例如分析高錳含量)需要銅(Cu)靶材X射線管。儀景通可以提供任一陽極,因此可以根據(jù)客戶的應(yīng)用需求選擇陽極。